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半導(dǎo)體C-V特性分析儀

試驗系統(tǒng)

參數(shù)測試儀

半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)

吉時利Keithley 4200A-SCS半導(dǎo)體測試儀系統(tǒng)半導(dǎo)體參數(shù)分析儀

半導(dǎo)體靜動態(tài)測試系統(tǒng)

同惠半導(dǎo)體C-V特性分析儀

IOL間歇壽命試驗系統(tǒng)HK-IOL-16H 參考價：面議
測試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode（小電流器件）進(jìn)行連續(xù)工作壽命和間歇工作壽命試驗。間歇工作壽命試驗利用芯片的反復(fù)開啟和關(guān)閉引起的反復(fù)高溫...
型號：廠商性質(zhì)：代理商所在地：深圳市對比

IOL間歇壽命試驗系統(tǒng)試驗系統(tǒng)HK-IOL-16H碳化硅器件參數(shù)測試儀IOL間歇壽命試驗系統(tǒng)

2024/1/29 15:42:292336
IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗系統(tǒng) 參考價：面議
IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗系統(tǒng)華科智源-功率循環(huán)老化設(shè)備主要是針對IGBT/SIC的封裝可靠性行進(jìn)行實驗,通過控制實驗條件再現(xiàn)IGBT封裝的主要兩種失效方...
型號：廠商性質(zhì)：代理商所在地：深圳市對比

SIC碳化硅器件測試儀HUSTEC-3000HUSTEC碳化硅器件參數(shù)測試儀參數(shù)測試儀

2024/1/29 15:40:262510

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