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英國牛津臺式測厚儀 OXFORD-760
產(chǎn)品特點: 高靈活性的銅厚測試儀
1、牛津儀器OXFORD-760系列銅厚測試儀專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計。
2、OXFORD-760可用于測量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度。這款高擴展性的臺式測厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達到對表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度準確和精確的測量。
3、OXFORD-760臺式測量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴展性，對多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測試的多種應用需求。
4、OXFORD-760具有*的統(tǒng)計功能用于測試數(shù)據(jù)的整理分析。SRP-4探頭：SRP系列探頭應用*的微電阻測試技術(shù)。測量時，通過厚度值與電阻值的函數(shù)關(guān)系準確可靠地得出厚度值，而不受絕緣板層厚度或印刷電路板背面銅層影響?？捎捎脩糇孕刑鎿Q探針的SRP-4探頭為牛津儀器產(chǎn)品。耗損的探針能在現(xiàn)場迅速，簡便的更換，將停機時間縮至zui短，更換探針模塊遠比更換整個探頭經(jīng)濟。
5.OXFORD-760的標準配置中包含一個替換用探針模塊。另行訂購的探針模塊以三個為一組，另外，細繩式的SRP-4探頭采用結(jié)實耐用的連接線和更小的測量覆蓋區(qū)令使用更為方便。
SRP-配件特點
SRP-4探頭：
SRP系列探頭應用*的微電阻測試技術(shù)。測量時，通過厚度值與電阻值的函數(shù)關(guān)系準確可靠地得出厚度值，而不受絕緣板層厚度或印刷電路板背面銅層影響。可由用戶自行替換探針的SRP-4探頭為牛津儀器產(chǎn)品。耗損的探針能在現(xiàn)場迅速、簡便地更換，將停機時間縮至zui短。更換探針模塊遠比更換整個探頭經(jīng)濟。OXFORD-760的標準配置中包含一個替換用探針模塊。另行訂購的探針模塊以三個為一組。
英國牛津測厚儀
ETP 探頭：
ETP探頭采用電渦流測試技術(shù)。電渦流測試方法指示出印刷電路板穿孔內(nèi)銅厚是否符合要求。*設(shè)計的探頭使測量準確、不受板內(nèi)層影響，即使是雙層板或多層板，甚
至在有錫或錫/鉛保層的情況下，同樣能夠良好工作。
OXFORD-760儀器配ETP 探頭采用溫度補償技術(shù)，即使是剛從電鍍槽內(nèi)取出的板，也能實現(xiàn)對穿孔內(nèi)鍍銅厚度的測量。
準確度：±(0.25μm)<(25μm) |
精確度：1.2mil時，1.0%（典型情況） |
分辨率：0.01mils(0.25μm) |
電渦流：遵守ASTME37696標準的相關(guān)規(guī)定 |
測量厚度范圍：(2-102μm) |
孔zui小直徑：(899μm) |
SRP-4 探頭規(guī)格： 
ETP 探頭規(guī)格：
準確度：±1%(±0.1μm)參考標準片 |
精確度：化學銅：標準差0.2%； |
電鍍銅：標準差0.3% |
分辨率：0.1μm>10μm, 0.01μm<10μm, 0.001μm<1μm |
測量厚度范圍： 銅：0.25μm-254μm 線形銅寬：203μm-76.2mm |
主機規(guī)格：
存儲量：8000 字節(jié)，非易失性 |
尺寸：（29.21× 26.67× 13.97 厘米） |
重量：（2.79 千克） |
單位：通過一個按鍵實現(xiàn)英制和公制的自動轉(zhuǎn)換 |
單位：可選擇mils 、μm、μin、mm、in或%作為顯示單位 |
接口：RS-232 串行接口，波特率可調(diào)，連接打印機或計算機 |
顯示：帶背光和寬視角的大LCD液晶顯示屏，480(H)×32(V) 象素 |
統(tǒng)計顯示：測量個數(shù)，標準差，平均值，zui大值，zui小值 |
統(tǒng)計報告：存儲位置，測量個數(shù)，銅箔類型，線形銅線寬， 測量日期/ 時間，平均值，標準差，方差百分比，準確度， zui高值，zui低值，值域，CPK值，單個讀數(shù)，時間戳， 直方圖圖表：直方圖，趨勢圖，X-R圖 |
OXFORD-760配置包括： 可選配件：
(面銅應用): |
OXFORD-760主機 |
SRP-4探頭 |
SRP-4探頭替換用探針模塊(1個） |
NIST認證的校驗用標準片(2個） |
(穿孔內(nèi)銅應用): |
ETP探頭 |
