低溫閃點測定儀技術指標與工作原理

來源：科創(chuàng)星光（北京）科技有限公司 2025年04月22日 09:44

技術指標：

1、檢測范圍：-30℃～100℃或-10℃～100℃或室溫～300℃（可選）

2、測量精度：±4℃

3、分辨率：0.1℃

4、制冷方式：半導體制冷（自帶冷水循環(huán)）

5、供氣氣源：氣或電可選（默認氣掃火）

6、環(huán)境溫度：溫度5℃～30℃

7、環(huán)境濕度：≤85%RH（無冷凝）

8、工作電源：AC220V±10% 50Hz±10%

9、整機功耗：≤300W

10、外形尺寸：490mm×520mm×390mm

11、儀器凈重：25.5kg

工作原理：

整機采用智能溫控儀表控制單元，設有加熱、開蓋、控溫及顯示、閃火、過溫保護功能特性。制冷元件采用半導體制冷器件，體積小，自帶水冷卻裝置，制冷速度快。

外圍電路采用固態(tài)繼電器等電子器件，杜絕了電氣干擾等問題。按照改進的PID控制的溫度加熱系統(tǒng)，采用高精度溫度轉換模塊，使溫度測試及顯示可靠準確。

以下介紹科創(chuàng)星光自主研發(fā)生產(chǎn)的低溫閃點測定儀，儀器特點如下介紹：

XG605低溫閃點測定儀.png

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