日本mitakakohki半導體全周長三維測量儀MLP-3
非接觸式全的方位輪廓測量：MLP-3 專門從事傳統(tǒng)坐標測量機、投影儀和激光顯微鏡無法實現(xiàn)的復雜測量。點自動對焦探頭和每個軸的控制（包括旋轉）解決了困擾測量人員的問題。
日本mitakakohki半導體全周長三維測量儀MLP-3
非接觸式全的方位輪廓測量：MLP-3 專門從事傳統(tǒng)坐標測量機、投影儀和激光顯微鏡無法實現(xiàn)的復雜測量。點自動對焦探頭和每個軸的控制（包括旋轉）解決了困擾測量人員的問題。
特征
1.不受表面顏色/反射率影響的高精度測量
可以直接測量從表面反射率僅為 0.5% 的鍍膜玻璃到反射率達到 90% 或更高的鏡面。
2.從各個方向都可以接近
根據(jù)工件從最佳方向接近，高精度定量測量截面和三維形狀
3.可觀察測量點
內置攝像頭可以讓您持續(xù)觀察測量點處的激光光斑和工件表面，從而可以準確識別測量位置并進行測量。
4.MLP-3 可實現(xiàn)全周長測量
通過將完的全非接觸式自動對焦探頭與高精度 5 軸平臺相結合，可以測量任何工件圓周上的亞微米形狀。
日本mitakakohki半導體全周長三維測量儀MLP-3
非接觸式全的方位輪廓測量：MLP-3 專門從事傳統(tǒng)坐標測量機、投影儀和激光顯微鏡無法實現(xiàn)的復雜測量。點自動對焦探頭和每個軸的控制（包括旋轉）解決了困擾測量人員的問題。
特征
1.不受表面顏色/反射率影響的高精度測量
可以直接測量從表面反射率僅為 0.5% 的鍍膜玻璃到反射率達到 90% 或更高的鏡面。
2.從各個方向都可以接近
根據(jù)工件從最佳方向接近，高精度定量測量截面和三維形狀
3.可觀察測量點
內置攝像頭可以讓您持續(xù)觀察測量點處的激光光斑和工件表面，從而可以準確識別測量位置并進行測量。
4.MLP-3 可實現(xiàn)全周長測量
通過將完的全非接觸式自動對焦探頭與高精度 5 軸平臺相結合，可以測量任何工件圓周上的亞微米形狀。
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