微觀力學(xué)原位測(cè)試儀

拉伸原位測(cè)試儀（2N—5000N）

可集成在多種成像設(shè)備下（SEM、金相顯微鏡等），對(duì)試樣施加載荷作用，在納米尺度下全程動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)材料的微觀變形、損傷過程。為深入研究各類材料及其制品的微觀力學(xué)行為和損傷機(jī)理提供理論依據(jù)。

原位測(cè)試儀可在SEM真空腔內(nèi)對(duì)材料拉伸/壓縮、彎曲、壓痕/劃痕等試驗(yàn)，在研究材料的機(jī)械性能領(lǐng)域扮演著重要的角色。借助于SEM超景深、大視野、高分辨率的成像能力，可深度分析材料微觀損傷機(jī)制，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)材料微觀變形損傷過程，在材料科學(xué)研究領(lǐng)域具有*的使用價(jià)值。

在計(jì)算機(jī)軟件控制下，可顯示試驗(yàn)力-時(shí)間曲線、試驗(yàn)力、試驗(yàn)力峰值、具有明顯屈服特征材料的屈服力，實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)方便直觀。