其測量原理建立在分散在液體顆粒的布朗運動基礎之上，顆粒越小，運動速度越快，顆粒越大，運動速度越慢。它采用HAMAMATSU高性能光電倍增管和我公司自主研制的高速數(shù)字相關器作為核心器件，通過測試某一角度的散射光的變化并求出自相關函數(shù)（即擴散系數(shù)），根據(jù)Stokes－Einstein方程計算出顆粒粒徑及分布。它具有快速、高分辨率、重復及準確等特點，同時還具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的優(yōu)點，是納米顆粒粒度測試的shou選產品。
粒度分析儀采用更先進的顆粒識別算法，對各種形狀的粘連顆粒都能自動分割，顯著提高粘連顆粒分割準確率，減少人為參與，有效縮短圖像處理時間；
粒度分析儀性能特點
先進的測試原理 該儀器采用動態(tài)光散射原理，其測試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的特點，從而保證了測試結果的真實性和有效性；
高靈敏度與信噪比 探測器采用HAMAMATSU光電倍增管（PMT），其具有*的靈敏度和信噪比，從而保證了測試結果的準確度；
超高速數(shù)據(jù)采集 核心部件采用我公司自主研制CR256數(shù)字相關器，它實時完成動態(tài)散射光強的采集和自相關函數(shù)運算，從而有效地反映不同大小顆粒的動態(tài)光散射信息，為測試結果的準確度奠定基礎；
穩(wěn)定的光路系統(tǒng) 采用光纖技術搭建而成的光路系統(tǒng)，使光子相關譜探測系統(tǒng)不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而保證了測試的穩(wěn)定性；
高精度恒溫控制系統(tǒng) 采用半導體溫控技術，溫控精度高達±0.2℃，使樣品在整個測試過程中始終處于恒溫狀態(tài)，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運動速度變化導致的測試偏差，保證測試結果準確度及穩(wěn)定性。
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