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手持式合金光譜分析儀原理及優(yōu)勢
點(diǎn)擊次數(shù)：394 發(fā)布時(shí)間：2023-1-29
隨著金屬行業(yè)對化合金測量和應(yīng)用技術(shù)的要求越來越高，選擇合適的儀器來測量金屬元素，以確保合金分析儀的使用壽命和可靠性已經(jīng)成為一種常見的做法。手持式合金光譜分析儀采用XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)中的特定元素，并對其進(jìn)行量化。
原理:
每個(gè)原子都有自己固定數(shù)量的電子（負(fù)電粒子）運(yùn)行在核子周圍的軌道上。并且電子的數(shù)量等于核子中的質(zhì)子（正電粒子）的數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)可以知道質(zhì)子的數(shù)量。每個(gè)原子數(shù)對應(yīng)固定的元素名稱，如鐵，元素名為Fe，原子數(shù)為26。能量色散X螢光和波長色散X螢光譜分析技術(shù)專門研究和應(yīng)用了三個(gè)電子軌道，即k、l、m上的活動(dòng)，其中k軌道接近核，每個(gè)電子軌道對應(yīng)一個(gè)特定的能量層。
手持式合金光譜分析儀在XRF分析方法中，從X射線發(fā)射管中輻射的高能初級(jí)射線光子會(huì)撞擊樣本元素。這些初級(jí)光子含有足夠的能量來撞擊和脫軌k層或L層的電子。此時(shí)，原子變成了不穩(wěn)定的離子。因?yàn)殡娮颖灸軙?huì)尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會(huì)進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。當(dāng)這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層時(shí)，它們會(huì)釋放能量，我們稱之為二次x光光子。
手持式合金光譜分析儀的整個(gè)過程稱為熒光輻射。每一種元素的二次射線都有自己的特點(diǎn)。x光光子熒光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)外能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量約為6.4千電子伏。特定元素在一定時(shí)間內(nèi)輻射的x光的數(shù)量或密度可以用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)光子密度的分布。
優(yōu)點(diǎn)：
1、薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到先進(jìn)水平；
2、數(shù)字多道技術(shù)，使測試更快，計(jì)數(shù)精度更高；
3、SDD硅漂移探測器具有良好的線性能量、能量分辨率和能譜特性，峰背比高，能有效提高元素的檢測極限；
以上就是上海澤權(quán)儀器設(shè)備有限公司對于手持式合金光譜分析儀原理及優(yōu)勢的見解，希望對您有所幫助。