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英國牛津儀器Z近幾年技術(shù)的發(fā)展
閱讀：1808 發(fā)布時(shí)間：2010-8-16
過去3年，超大面積硅漂移檢測儀器CMI200測厚儀系列系列在市場一直占有主導(dǎo)地位。日前牛津儀器發(fā)布了該系列的新一代產(chǎn)品，新產(chǎn)品具備更為的分析性能，分辨率可達(dá)0.1μm。
牛津儀器一直致力于科技創(chuàng)新，運(yùn)用科技成果提供世界*產(chǎn)品。這一優(yōu)良傳統(tǒng)不斷促進(jìn)硅漂移檢測技術(shù)的發(fā)展。CMI200測厚儀系列新產(chǎn)品的問世，意味著該技術(shù)取得的突破與發(fā)展。
CMI200測厚儀系列新產(chǎn)品性能升級，是檢測面積、速度和分辨率的*組合。該產(chǎn)品具有在掃描時(shí)間內(nèi)自動平均讀數(shù)，且仍能保持高計(jì)數(shù)率、快速成像、以及優(yōu)異的檢測分析性能。
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